产品技术质量 1.总体技术要求 *扫描方式:激光手持照相式 *扫描技术:激光线网格扫描技术 帧扫描区域:250mm×230mm 景深:250mm 工作距离:300mm *扫描速率:240000次/秒 扫描分辨率:0.050 (毫米) *测量精度:较高0.03 mm *体积精度:0.020 + 0.100(毫米/米) 体积精度(结合DigiMetric):0.020 + 0.025(毫米/米) 测量范围(物件尺寸):0.1 ~6米,可扩展 传输方式:USB3.0 工作温度:-10 - 40℃ 工作湿度:10 - 90 % 2.三维光学扫描系统配置与功能要求 (1) 数据采集传感器:高速、高精密工业级相机2台 * (2) 内置微惯性传感器,实时输出设备位姿; * (3) 测量光源:6 束交叉激光线,激光级别ClassII(人眼安全),波长大于600纳米 (4) 计算机系统:支持windows 7,32位和64位操作系统,支持内存16G以上 (5) 拼接方式:系统整合“专业模式”全自动标志点拼接模块 (6) 全局误差控制方式:系统整合GREC Pro全局误差控制模块 * (7) 使用方便:整个过程全部手持完成,*三脚架等支撑装置 (8) 所测量的物体表面可不做任何形式(如贴标识和喷白)的预先处理 (9) 普通环境下可以测量鎏金等高光亮物体以及黑色物体 (10)防抖设计:采用先进的防抖动算法,防止扫描过程中人为的抖动对误差的影响 3.三维光学扫描系统软件功能要求 * 全中文软件界面 * 自适应形面扫描模块 (1) 自动调节系统参数,自适应各种材质/颜色表面的不同扫描对象,*手动调节; (2) 可变点距扫描,在同一次扫描中,可对点距进行灵活设置和改变,同时满足高速扫描以及精细扫描的需求 * 自动拼接模块 (1) 智能标志点识别技术:系统自动跟踪识别标志点; (2) 惯性—光学混合式传感器定位技术,实时将数据自动配准到同一坐标系; (3) GREC Pro全局误差控制模块,可对拼接后的误差进行全局控制; * 全局框架扫描模块 (1) 全局框架扫描技术,对框架点累积误差进行全局控制; (2) 兼容DigiMetric系统,搭载全局摄影测量技术可将扫描范围扩展至几十米; 点云处理模块 (1)扫描数据后,可进行点云噪声处理及修剪 (2)基于曲率的点云精简功能 (3)自动生成三角面 数据输入输出 (1)导出结果为ASC,STL,OBJ,OKO等格式数据输出接口广泛,测量结果可与CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程软件自由交换数据 其它 *生产企业须通过双软企业认证,拥有**发明**,并通过**企业认定。 供应商必须提供设备的软硬件安装调试。