大学中小学高校教学实验3D扫描仪实训室三维扫描仪天远三维

一.产品技术质量
1.总体技术要求
*扫描方式：激光手持照相式
 *扫描技术：激光线网格扫描技术
帧扫描区域：300mm×250mm
景深：250mm
工作距离：300mm
*扫描速率： 480000次/秒
扫描分辨率：0.05（毫米）
*测量精度：较高0.03 mm
*体积精度：0.020 + 0.100（毫米/米）
体积精度（结合DigiMetric）：0.020 + 0.025（毫米/米）
测量范围（物件尺寸）：0.1 ～6米，可扩展
传输方式：USB3.0
工作温度：-10 - 40℃
工作湿度：10 - 90 %
2.三维光学扫描系统配置与功能要求
(1) 数据采集传感器：高速、高精密工业级相机2台 
* (2) 内置微惯性传感器，实时输出设备位姿；
* (3) 测量光源：14束交叉激光线，激光级别ClassII(人眼安全)，波长大于600纳米
(4) 计算机系统：支持windows 7，32位和64位操作系统，支持内存16G以上
(5) 拼接方式：系统整合“专业模式”全自动标志点拼接模块
(6) 全局误差控制方式：GREC Pro全局误差控制
* (7) 扫描方式：FLESA可变点距扫描
* (8) 使用方便：整个过程全部手持完成，*三脚架等支撑装置
(9) 所测量的物体表面可不做任何形式（如贴标识和喷白）的预先处理
(10) 防抖设计：采用先进的防抖动算法，防止扫描过程中人为的抖动对误差的影响
3.三维光学扫描系统软件功能要求
* 全中文软件界面
  * 自适应形面扫描模块
	(1)  自动调节系统参数，自适应各种材质/颜色表面的不同扫描对象，*手动调节；
	(2)  FLESA可变点距扫描，在同一次扫描中，可对点距进行灵活设置和改变，同时满足高速扫描以及精细扫描的需求
* 自动拼接模块
(1)  智能标志点识别技术：系统自动跟踪识别标志点；
(2)  惯性—光学混合式传感器定位技术，实时将数据自动配准到同一坐标系；
(3)  GREC Pro全局误差控制模块，可对拼接后的误差进行全局控制；
* 全局框架扫描模块
(1)  全局框架扫描技术，对框架点累积误差进行全局控制；
(2)  兼容DigiMetric系统，搭载全局摄影测量技术可将扫描范围扩展至几十米；
  * 后处理模块
(1)扫描数据后，可进行点云噪声处理及修剪
(2)内置友好的网格处理控制参数人机交互界面，可对去除钉状物、精简、平滑、特征锐化等网格处理参数进行设置
(3)自动生成三角面
(4)自动对三角网格数据进行补洞、去除钉状物、精简、平滑、特征锐化等处理
数据输入输出
导出结果为ASC，STL，OBJ，OKO等格式数据输出接口广泛,测量结果可与CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程软件自由交换数据